TY  - BOOK
AU  - TSUI, FRANK. F.
TI  - LSI VLSI TESTABILITY DESIGN
SN  - 0070653410
AV  - TK 7874 .T78 
PY  - 1987///
CY  - NEW YORK
PB  -  McGRAW-HILL
KW  - Intergrated Circuits
ER  -